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樣品在掃描電子顯微鏡（SEM）中的放置角度確實會影響獲得的圖像質量和信息。具體影響主要體現在以下幾個方面：

信號強度和對比度變化

SEM 的電子束垂直照射樣品表面時，反射電子（反射電子成像）和二次電子（形貌成像）信號通常更強，圖像對比度較好。如果樣品傾斜角度較大，電子束入射角變斜，信號強度可能減弱，導致圖像對比度降低或細節不清晰。

形貌和立體感的表現

適當傾斜樣品（比如通常傾斜 30° 或 45°）可以增強表面立體感，因為二次電子信號受表面粗糙度和角度影響較大。這種傾斜常用于觀察斷口、斷層、刻蝕結構等，有助于獲得更明顯的三維形貌信息。

幾何畸變和尺寸測量誤差

樣品放置角度不垂直于電子束時，圖像會產生幾何投影畸變，測量尺寸時需要校正傾斜角度，否則得到的尺寸數據會偏大或偏小。

元素分析信號的影響

在做能譜（EDS）分析時，樣品角度會影響X射線的產生和探測效率，傾斜過大會導致信號減弱或不均勻，從而影響元素定量分析的準確性。

避免陰影效應

如果樣品角度擺放不當，特別是高大結構或凸起部分，會在電子束照射下產生陰影，導致圖像部分區域信號缺失或變暗。