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      臺式掃描電鏡電子束校準步驟

      日期:2023-06-14

      在使用臺式掃描電鏡(SEM)時,進行電子束校準是確保獲得準確和可靠結果的重要步驟之一。以下是一般情況下的電子束校準步驟:

      加載樣品:將您要觀察的樣品放置在SEM樣品臺上,并確保樣品固定穩定。

      調整放大倍數:選擇適當的放大倍數以獲得所需的觀察尺度。調整SEM儀器的放大倍數控制,使樣品在屏幕上適當大小顯示。

      調整工作距離(Working Distance):工作距離是指電子槍和樣品之間的距離。通過調整SEM儀器的工作距離控制,使電子束與樣品的焦點位置達到適合狀態。通常,工作距離的調整是通過觀察樣品圖像的清晰度來完成的。根據您的SEM儀器型號,可能需要使用自動或手動控制來調整工作距離。

      調整對比度和亮度:根據需要,調整SEM儀器的對比度和亮度設置,以獲得清晰的圖像。這可以通過控制圖像增益、曝光時間或者亮度/對比度調節器來完成。

      校準掃描電鏡參數:根據SEM儀器的要求和操作手冊,對一些重要參數進行校準。這些參數可能包括電子束電壓、電子束對準、掃描速度和掃描模式等。根據SEM儀器的型號和軟件界面,校準這些參數可能需要在設備控制面板或者計算機軟件中進行。

      確認校準:進行校準后,通過觀察標準樣品(如標準刻度尺或標準顆粒)來確認電子束的校準準確性。檢查圖像的尺寸、形狀和細節,確保它們與已知的標準相匹配。

      請注意,具體的電子束校準步驟可能因不同的SEM儀器型號和軟件而有所不同。因此,在進行電子束校準之前,建議仔細閱讀SEM儀器的操作手冊,并按照手冊中的指導進行操作。

      ZEM18臺式掃描電鏡

      ZEM18臺式掃描電鏡

      以上就是澤攸科技小編分享的臺式掃描電鏡電子束校準步驟。更多掃描電鏡產品及價格請咨詢 


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      作者:澤攸科技


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