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在掃描電子顯微鏡（SEM） 中，圖像的清晰度和可分析性很大程度上取決于 噪聲控制和對比度調整。下面我給你整理了一個系統的方法：

1. 噪聲來源

掃描電鏡圖像噪聲主要來源于：

電子束統計噪聲：電子數量有限導致信號隨機波動

檢測器本身噪聲：SE 或 BSE 檢測器固有噪聲

環境干擾：震動、電磁干擾、真空波動

2. 降低噪聲的操作技巧

調整加速電壓

較低加速電壓可減少樣品損傷，但信號弱，噪聲高

適中電壓平衡分辨率和信噪比（通常 5–20 kV，根據樣品導電性）

增加信號累積時間（掃描速度）

慢掃描：每個像素采集更多電子 → 信噪比提高

快速掃描 → 噪聲大，但可避免樣品充電或漂移

幀平均 / 多幀累加

對動態噪聲，連續采集多幀圖像后平均，可顯著降低隨機噪聲

檢測器選擇與優化

SE → 邊緣細節清晰

BSE → 物質對比明顯

適當調整 探測器增益，避免信號過弱或過飽和

樣品處理

導電處理（鍍金、碳）可減少充電噪聲

表面平整度高 → 信號穩定，噪聲小

3. 對比度與亮度調整技巧

實時調整

在 SEM 控制面板上調節 亮度（Brightness） 與 對比度（Contrast）

亮度 → 調整體灰度平均值

對比度 → 調整暗區與亮區的灰度跨度

直方圖法

觀察圖像灰度直方圖

拉伸主要信號區 → 提高對比度

避免過度拉伸 → 亮區或暗區飽和

后處理軟件優化

使用 ImageJ、Photoshop 或 Igor Pro 調整對比度

可配合 噪聲濾波（中值濾波、低通濾波） 保留結構細節。