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      掃描電鏡對樣品的要求和限制

      日期:2023-11-28

      掃描電鏡(SEM)在樣品方面有一些要求和限制,這些因素可以影響成像質量和分析的可行性。以下是一些常見的掃描電鏡樣品的要求和限制:

      樣品要求:

      導電性: 樣品需要具有一定的導電性,因為電子束在與樣品相互作用時需要產生信號。非導電性樣品可能需要進行導電性處理,例如金屬涂覆。

      干燥狀態: 樣品應處于干燥狀態,因為水分會干擾電子束的傳播,導致圖像模糊。濕潤的樣品可能需要在真空中進行處理。

      表面平整: 掃描電鏡對樣品表面的平整度較為敏感。表面不平整或凹凸不平的樣品可能導致成像失真。

      大?。?樣品的大小應適中,以確保在掃描電鏡中獲得清晰的圖像。過小或過大的樣品可能不適合SEM的操作。

      樣品限制:

      非導電性樣品: 非導電性樣品可能需要導電性處理,以避免電荷積聚和成像問題。

      生物樣品: 生物樣品通常需要進行特殊處理,如冷凍干燥或金屬涂覆,以保持其形狀和結構,并提高導電性。

      易揮發性樣品: 易揮發性物質可能在真空條件下失去,影響成像結果。

      磁性樣品: 磁性樣品可能受到電子束的影響,導致成像畸變。在一些情況下,需要進行去磁處理。

      光學透明樣品: 光學透明的材料對電子束不產生足夠的信號,因此在SEM中不容易成像。通常需要使用金屬涂覆或其他處理來增加導電性。

      ZEM20臺式掃描電鏡

      ZEM20臺式掃描電鏡

      以上就是澤攸科技小編分享的掃描電鏡對樣品的要求和限制。更多掃描電鏡產品及價格請咨詢 


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      作者:澤攸科技


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