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避免或減輕掃描電鏡樣品制備過程中的偽跡和偽影是確保獲得高質量顯微圖像的關鍵步驟。以下是一些建議：

樣品制備技術： 選擇適當的樣品制備技術，確保樣品的制備過程不會引入額外的偽跡。這可能涉及到使用適當的固定劑、脫水和清理步驟。

盡量避免表面污染： 確保樣品表面干凈，避免灰塵、油脂或其他雜質的附著。使用清潔工具和實驗室設備，避免手觸摸樣品表面。

避免靜電吸附： 靜電吸附可能導致樣品表面附著微小的顆粒或灰塵，產生偽跡。使用抗靜電處理方法，如放電設備或抗靜電涂層，以減輕這種效應。

適當的金屬涂層： 對于非導電樣品，可以考慮使用薄的導電金屬層，如金或鉑，以提高導電性并減輕充電效應。

避免過度處理： 盡量避免過度處理樣品，例如過度固定或過度脫水，這可能導致偽影的產生。

選擇適當的顯微鏡參數： 優化掃描電鏡的參數，包括加速電壓、探測器類型和放大倍數，以減少偽影的產生。

定期清理儀器： 定期清理掃描電鏡的樣品舞臺、探測器和其他部件，以確保儀器的整潔，并減少可能導致偽跡的因素。

合理的實驗條件： 在適當的溫度和濕度條件下進行實驗，以減少靜電效應和其他環境因素對樣品的影響。

標準樣品： 使用標準樣品來驗證和調整儀器參數，以確保其性能和分辨率。

ZEM18臺式掃描電鏡

以上就是澤攸科技小編分享的如何避免或減輕掃描電鏡樣品制備過程中的偽跡和偽影。更多樣品桿產品及價格請咨詢