如何準備樣品進行掃描電鏡分析
日期：2023-06-19
準備樣品進行掃描電鏡（Scanning Electron Microscope，SEM）分析需要經過一系列步驟。以下是一般的樣品準備流程：
樣品選擇：選擇適合SEM分析的樣品。SEM適用于觀察固體樣品，如金屬、陶瓷、聚合物、纖維等。樣品應具有足夠的導電性或經過導電處理，以便在SEM中觀察。
樣品固定：根據樣品的性質和尺寸，采用適當的固定方法。對于剛性樣品，可以使用環氧樹脂、膠水或夾具進行固定。對于脆性樣品，可以使用低溫冷凍固定或化學固定。
表面處理：為了提高SEM的觀察效果，樣品的表面需要進行處理。常見的表面處理方法包括金屬噴鍍、碳噴鍍和金屬化學腐蝕等。這些處理方法有助于減少表面電荷和增強導電性。
剪切和研磨：對于大尺寸或粗糙的樣品，可以使用切割工具、砂輪或研磨機等進行剪切和研磨，以獲得更平坦的樣品表面。
去除污染：確保樣品表面干凈，沒有灰塵、油脂或其他污染物。可以使用有機溶劑、超聲波清洗或氣體吹掃等方法進行清潔。
干燥：將樣品完全干燥，以避免SEM中的水蒸汽引起的散射?？梢允褂米匀桓稍铩⒌獨獯祾?、冷凍干燥或臨界點干燥等方法。
導電處理：對于非導電樣品，需要進行導電處理以增強導電性。常用的導電處理方法包括金屬噴鍍、碳噴鍍或真空鍍膜等。
定位和固定：在樣品臺上準確定位和固定樣品，以確保在SEM中正確觀察感興趣的區域。
SEM觀察參數設置：在進行SEM觀察之前，根據樣品的性質和目的，設置合適的加速電壓、工作距離、探針電流、像素大小等觀察參數。
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作者：澤攸科技