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      掃描電鏡中的樣品表面充電問題及其解決方法

      在掃描電子顯微鏡(SEM)中,樣品表面充電是一個常見的問題。當樣品處于高真空環境下,并且受到來自電子束的照射時,可能會發生表面電子的發射和重新組合,導致樣品表面帶電。這會導致圖像失真、信號衰減以及可能損害樣品。

      MORE INFO → 行業動態 2023-07-25

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