IMC20┃9月10日澤攸科技與您相約韓國釜山國際顯微學大會
9月10日~15日，IMC20（第20屆國際顯微學大會）將在韓國釜山BEXCO會議中心召開舉行，澤攸科技將攜一眾先進科學儀器及微納技術領域行業解決方案，誠邀您共赴盛會！
MORE INFO → 公司新聞 2023-09-08
9月10日~15日，IMC20（第20屆國際顯微學大會）將在韓國釜山BEXCO會議中心召開舉行，澤攸科技將攜一眾先進科學儀器及微納技術領域行業解決方案，誠邀您共赴盛會！
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掃描電子顯微鏡有多種變種和模式，每種都適用于不同的應用和研究領域。
MORE INFO → 行業動態 2023-09-08
掃描電子顯微鏡（SEM）圖像的獲得速度取決于多個因素，包括以下幾個關鍵因素：
MORE INFO → 行業動態 2023-09-08
在掃描電鏡（SEM）中，樣品表面電荷積累是一個常見的問題，它可能導致圖像質量下降，特別是在非導電或絕緣性材料上。
MORE INFO → 行業動態 2023-09-07
獲取和保存掃描電鏡（SEM）圖像通常涉及以下步驟：
MORE INFO → 行業動態 2023-09-07
掃描電子顯微鏡（SEM）圖像通常是灰度圖像，其中不同的灰度級別代表不同的亮度。
MORE INFO → 行業動態 2023-09-06
掃描電鏡（SEM）本身不能進行化學成分分析，但可以與能量色散X射線光譜儀（EDS）或能量色散X射線分析儀（EDX）結合使用來進行化學成分分析。
MORE INFO → 行業動態 2023-09-06
9月6日，第24屆中國國際光電博覽會與2023深圳國際電池技術展覽會將在深圳舉行，BCEIA2023第二十屆北京分析測試學術報告會暨展覽會將在北京舉行，澤攸科技將攜一眾先進科學儀器，及微納技術領域行業解決方案，誠邀您共赴盛會！
MORE INFO → 公司新聞 2023-09-05