掃描電鏡的真空度介紹
掃描電子顯微鏡（SEM）的真空度是非常重要的參數，它直接影響電子束的傳播和樣品的成像質量。
MORE INFO → 行業動態 2024-06-05
掃描電子顯微鏡（SEM）的真空度是非常重要的參數，它直接影響電子束的傳播和樣品的成像質量。
MORE INFO → 行業動態 2024-06-05
在掃描電子顯微鏡（SEM）中，調節焦距是獲取清晰圖像的關鍵步驟。焦距調節主要是通過控制工作距離（Working Distance, WD）和物鏡焦距（Objective Focus）來實現的。
MORE INFO → 行業動態 2024-06-03
掃描電子顯微鏡（SEM）結合能量色散X射線光譜（EDS或EDX）技術，能夠提供多種成分分析功能。
MORE INFO → 行業動態 2024-06-03
六一國際兒童節即將來臨，澤攸科技在這個節日前夕，開展了一場別開生面的公益科普活動。
MORE INFO → 公司新聞 2024-05-31
5月30日，西南交通大學子弟小學科創節暨第二屆橋梁模型比賽，在洋溢著歡樂氣息的校園里拉開序幕，西南交通大學子弟小學里的孩子們興高采烈地展示著自己的創意作品。
MORE INFO → 公司新聞 2024-05-31
在掃描電子顯微鏡（SEM）分析中，硅片常用于以下幾種情況：
MORE INFO → 行業動態 2024-05-30
對于非導電樣品，掃描電子顯微鏡（SEM）分析通常需要進行導電處理，以防止在電子束照射下產生電荷積累，導致圖像失真或漂移。
MORE INFO → 行業動態 2024-05-30
掃描電子顯微鏡（SEM）可以結合能量色散X射線光譜（EDS或EDX）來進行成分分析。
MORE INFO → 行業動態 2024-05-29