如何避免掃描電鏡圖像中的畸變?
在掃描電鏡(SEM)?中,畸變(distortion)是指圖像中的形狀、尺寸或比例的變化,可能導致不準確的分析或失真的圖像。
MORE INFO → 行業動態 2025-01-20
在掃描電鏡(SEM)?中,畸變(distortion)是指圖像中的形狀、尺寸或比例的變化,可能導致不準確的分析或失真的圖像。
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在掃描電鏡(SEM)?中,樣品鍍金是常見的樣品制備方法之一,主要用于增強樣品的導電性,并避免由于樣品表面電荷積累(charging)而影響圖像質量。
MORE INFO → 行業動態 2025-01-20
掃描電子顯微鏡(SEM)?的樣品尺寸限制主要受到以下幾個因素的影響:
MORE INFO → 行業動態 2025-01-17
在掃描電子顯微鏡?(SEM)中,焦深(Depth of Field,DOF)是指電子顯微鏡能夠清晰成像的樣品表面區域的深度范圍。
MORE INFO → 行業動態 2025-01-17
掃描電鏡(SEM)?對樣品表面粗糙度的敏感度較高,尤其在觀察較小的細節和表面特征時。
MORE INFO → 行業動態 2025-01-16
掃描電鏡(SEM)?非常適合用于觀察樣品的表面缺陷,尤其是在納米級別的缺陷上。掃描電鏡通過電子束與樣品表面相互作用生成圖像,可以清晰地顯示出表面形貌、微小裂紋、氣孔、腐蝕痕跡、加工痕跡等缺陷。
MORE INFO → 行業動態 2025-01-16
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MORE INFO → 公司新聞 2025-01-16
掃描電鏡(SEM)?與樣品的電導性密切相關。樣品的電導性會影響電子束與樣品表面相互作用的方式,從而影響成像質量和樣品的觀察效果。
MORE INFO → 行業動態 2025-01-14