澤攸科技亮相第十三屆納博會
三月一日至三日，澤攸科技攜完全自主研制的材料表征測量及半導體加工設備，應邀出席第十三屆國際納米技術產業博覽會（以下簡稱納博會）。
MORE INFO → 公司新聞 2023-03-02
三月一日至三日，澤攸科技攜完全自主研制的材料表征測量及半導體加工設備，應邀出席第十三屆國際納米技術產業博覽會（以下簡稱納博會）。
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掃描電鏡SEM可以通過能譜儀（EDS）來對樣品的成分進行分析。EDS是一種通過測量樣品表面上散射的X射線來確定樣品中元素組成的技術。
MORE INFO → 行業動態 2023-03-01
掃描電鏡SEM可以用來觀察和分析各種材料的表面形貌和微結構。那么掃描電鏡可以分析什么呢？
MORE INFO → 行業動態 2023-03-01
掃描電鏡通過高能電子與樣品間的相互作用而成像。掃描電鏡中的電子槍會發射出高能電子束，并且這個電子束被聚焦成一個非常小的束斑，然后通過掃描樣品表面來獲取信號。
MORE INFO → 常見問題 2023-02-28
掃描電鏡是一種利用高能電子束與樣品相互作用，產生反射、透射、散射等信號，通過信號的捕捉與分析，獲取樣品表面形貌、成分和結構等信息的儀器。它的結構組成包括以下幾個主要部分：
MORE INFO → 行業動態 2023-02-28
掃描電鏡電子槍的基本工作原理是通過加熱陰極發射出電子，然后利用加速電場將電子加速到較高的能量水平，最后通過電磁透鏡系統將電子聚焦成細小的電子束。
MORE INFO → 常見問題 2023-02-27
臺式掃描電鏡是一種可放置在實驗室桌面上的掃描電鏡。與傳統的掃描電鏡相比，它體積較小，操作簡便，適合在實驗室中進行樣品分析和觀察。
MORE INFO → 常見問題 2023-02-27
掃描電鏡?（SEM）是利用電子束與樣品相互作用來成像的一種顯微鏡。
MORE INFO → 行業動態 2023-02-24